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全元素分析儀（ROHS檢測儀）用于檢測電子電氣產品中鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、六價鉻（Cr??）、多溴聯(lián)苯（PBB）、多溴二苯醚（PBDE）等有害物質含量，確保產品符合環(huán)保法規(guī)。以下是其使用指引及關鍵操作步驟：一、操作前準備儀器檢查確認儀器外觀無損壞，電源線、數(shù)據(jù)線連接穩(wěn)固。檢查X射線管、探測器窗口是否清潔，無遮擋或異物。確保測試環(huán)境無強電磁干擾，溫度15-30℃，濕度≤80%。開機預熱開啟儀器電源，啟動分析軟件，預熱30分鐘（部分型號需1小時），確保X射線管穩(wěn)定。...

手持式X熒光分析儀是一種基于X射線熒光（XRF）光譜分析技術的便攜式分析設備，廣泛應用于材料成分分析、地質勘探、環(huán)境監(jiān)測、工業(yè)檢測等領域。儀器內置的X射線管發(fā)射初級X射線，照射到樣品表面后，樣品中的原子被激發(fā)并產生特征X射線熒光。探測器捕捉熒光信號，通過能量色散或波長色散技術將信號轉換為光譜，再利用算法解析光譜，確定樣品中元素的種類和含量。一、技術特點：便攜性：體積小、重量輕，便于現(xiàn)場快速檢測。多元素分析：可同時檢測多種元素，覆蓋周期表中的輕元素（如鎂、鋁）到重元素（如鉛、鈾...

鍍層測厚儀是一種用于測量金屬或其他材料表面鍍層厚度的儀器，廣泛應用于制造業(yè)、質量檢測等領域。鍍層測厚儀通過不同的物理原理來測量涂層的厚度，常見的原理包括磁性感應原理、渦流原理和X射線熒光原理。磁性感應原理適用于測量非磁性涂層在磁性基材上的厚度，渦流原理適用于測量導電性涂層在導電性基材上的厚度，X射線熒光原理則通過測量被激發(fā)出的熒光X射線的能量和強度來確定鍍層的元素組成和厚度。1、磁性感應原理：利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。覆層越厚，則磁阻...

國產固定道WDXRF與進口WDXRF在硅基材料分析中的對比與應用推薦波長色散X射線熒光光譜儀（WavelengthDispersiveX-rayFluorescence，WDXRF）是一種廣泛應用于材料分析的技術，尤其在硅基材料（如半導體、玻璃、硅片等）中具有重要作用。進口WDXRF設備雖然在性能上表現(xiàn)優(yōu)異，但成本較高，而國產固定道WDXRF近年來發(fā)展迅速，在許多應用場景中已能滿足實際需求。本文通過對比國產固定道WDXRF與進口WDXRF，在硅基材料分析中的性能表現(xiàn)，并結合實...

X射線熒光光譜儀原理及主要技術指標對比X射線熒光光譜儀（簡稱：XRF）X熒光光譜儀主要由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。其原理就是：X射線管通過產生入射X射線（一次X射線），來激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線（又叫X熒光），并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量或者波長。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內...