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 性能特點

金屬鍍層測厚分析儀滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護

技術指標

型號：Thick 800A金屬鍍層測厚分析儀
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
金屬鍍層測厚分析儀分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

原理

金屬鍍層測厚分析儀原理是根據(jù)X射線穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，根據(jù)該X射線的能量值，確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號，經(jīng)過前置放大器放大，再由測厚儀操作系統(tǒng)轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。
X射線源輻射強度的大小，與X射線管的發(fā)射強度和被測鋼板所吸收的X射線強度相關。一個在系統(tǒng)量程范圍內的給定厚度，為了確定其所需的X射線能量值，可利用M215型X射線檢測儀進行校準。在檢測任一特殊厚度時，系統(tǒng)將設定X射線的能量值，使檢測能夠順利完成。
金屬鍍層測厚分析儀在厚度一定的情況下，X射線的能量值為常量。當安全快門打開，X射線將從X射線源和探頭之間的被測鋼板中通過，被測鋼板將一部分能量吸收，剩余的X射線被位于X射線源正上方的探頭接收，探頭將所接收的X射線轉換為與之大小相關的輸出電壓。如果改變被測鋼板的厚度，則所吸收的X射線量也將改變，這將使探頭所接收的X射線量發(fā)生變化，檢測信號也隨之發(fā)生相應的變化。
金屬鍍層測厚分析儀按射線源的種類可分為X射線測厚儀與核輻射線測厚儀兩類，而后者又可多r射線測厚儀與 射線測厚儀。按射線與被測板材的作用方式，又可分為穿透式和反射式。
金屬鍍層測厚分析儀是利用射線與物質相互作用時，為物質所吸收或散射的效應來進行測量的一種儀表。其主要特點：
(1)可進行連續(xù)和不接觸地測量；
(2)測量精度較高；
(3)反應速度較快；
(4)能夠給出供濕示、記錄與控制的電信號，易于實現(xiàn)生產(chǎn)自動化。

標準配置

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
金屬鍍層測厚分析儀高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機